標題日本J-RAS絕緣劣化試驗

　　離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經過長時間的測試(1 ～1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ), 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。

　　產品優勢

　　1.簡單/便利

　　△采用驅動計測，測試時焊接工序大幅減少。

　　△軟件設計簡單明了，能夠非常直觀得操作。

　　△配有過程中的記錄、報告相關的報表功能。

　　△測試中，設備可以單獨運行，電腦電源切斷也不受影響。

　　2.高性能&高機能

　　△因為每個通道都單獨配有電壓/計測電路，可以做到16ms的計測間隔。

　　→遷移現象的檢測能力更高，對產品品質把控更精準。

　　△一臺電腦大可以增設400通道。

　　△每個通道可以設定不同的電壓。

　　絕緣劣化試驗產品來源：

　　https://www.ybzhan.cn/st133409/list_793409.html

　　http://www.sz-skyan.com/Products-13879487.html