標題吉時利Keithly 4200-SCS 半導體參數分析儀

·直觀的、點擊式Windows操作環境 
·獨特的遠端置放大器，將SMU的分辨率擴展至0.1fA 
·用于高半導體測試的新型脈沖與脈沖式I-V功能 
·集成了示波與脈沖測量功能的新型示波卡 
·內置PC提供快速的測試設置、強大的數據分析、制圖與打印、以及測試結果的大容量存儲 
·獨特的瀏覽器風格的軟件界面，根據器件的類型來安排測試，可以執行多項測試并提供測試序列與循環控制功能 
·內置了Stress/Measure，循環和數據分析功能，通過鼠標點擊方式就可進行可靠性測試，包括5個JEDEC規范的樣品測試 
·支持 Keithley590 型與 Agilent 4284/4294型C-V儀、Keithley開關矩陣與Agilent 81110脈沖發生器等多種外圍設備 
·硬件由keithley交互式測試環境（KITE）來控制，用戶測試模塊功能，可用于外接儀表控制與測試平臺集成，是KITE功能的擴充 
·包括驅動軟件，支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自動和手動探針臺 
·支持先進的半導體模型參數提取，包 括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso

容易使用的吉時利4200-SCS型半導體特性分析系統用于實驗室的器件直流參數測試、實時繪圖與分析，具有高精度和亞fA的分辨率。它提供了先進的系統集成能力，包括完整的嵌入式PC機，WindowsNT操作系統與大容量存儲器。其自動記錄、點擊式接口加速并簡化了獲取數據的過程，這樣用戶可以更快地開始分析測試結果。

KEITHLEY4200-SCS 相關應用:
半導體器件
·片上參數測試 
·晶圓可靠性 
·封裝器件的特性分析 
·使用Model4200-SCS控制外部LCR表進行C-V、I-V特性分析 
·高K柵電荷俘獲 
·易受自加熱效應影響的器件和材料的等溫測試 
·電荷泵方法分析MOSFET器件的界面態密度 
·電阻式或電容式MEMS驅動特性分析
光電器件
·半導體激光二管DC/CW特性分析 
·收發模塊DC/CW特性分析