
您的位置:首頁 > 技術文獻 > > NTEK三次元首次突破在光學界一直難以解決的問題
INTEK三次元是世界頂級的測量專家,其性能除了能高效率的檢測產品以外。還能在這些基礎上追加一直光學測量界難以突然的問題。近年來,INTEK三次元首次突破現有光學界的局限功能,利用超精密的激光生成三維影像以及三維信息等。具有適合所有要求平坦度,精密高度和表面粗造度的對像物使用的功能,特別對檢測所有透明、半透明、不透明試料的高度有著卓越的效果,應用范圍廣泛,上述激光模組擁有50納米的高分辨,以及50000點/秒的速度,有助于提高實際生產效率和之前無法解決的檢測問題!INTEK三次元激光可以稱為是測定Z軸形象的2D剖面、3D剖面圖,并便于測定高度、節數、照讀等的探測器。
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