標題X射線熒光光譜儀的簡介

　　X射線熒光光譜儀：

　　主要用途： 儀器是較新型X射線熒光光譜儀，具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F（9）～U（92）之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的最大尺寸要求為直徑51mm,高40mm.

　　指標信息： 1.發射源是Rh靶X光管，最大電流125mA，電壓60kV，最大功率3kW 2.儀器在真空條件下工作，真空度<13pascals 3.5塊分析晶體，可以分析元素周期表F～U之間所有元素，含量范圍是ppm～100% 4.分析軟件是Philips公司（現為PANalytical）最新版軟件，既可作半定量，也可定量分析。精密度：在計算率N=1483870時， RSD=0.08% 穩定性計算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相對誤差為0.03%

　　儀器類別： 0303040903 /儀器儀表 /成份分析儀器 /熒光光度計

　　附件信息： 循環水致冷單元，計算機 P10氣體瓶空氣壓縮機

　　分析對象主要有各種磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等，以及各種形態樣品的無標半定量分析，對于均勻的顆粒度較小的粉末或合金，結果接近于定量分析的準確度。X熒光分析快速，某些樣品當天就可以得到分析結果。適合課題研究和生產監控。

　　熒光激發光譜和熒光發射光譜 2.同步熒光（波長和能量）掃描光譜 3.3D（Ex Em Intensity） 4.Time Base和CWA（固定波長單點測量） 5.熒光壽命測量，包括壽命分辨及時間分辨 6.計算機采集光譜數據和處理數據（Datamax和Gram32）