VIEW 系統提供適合手頭測量應用的光學系統選擇。 VIEW Benchmark、Pinnacle 和 Summit 系統可配置單倍放大固定鏡頭光學系統或獨特的雙倍放大光學系統。這兩種布置都提供光學可互換的物鏡，以允許放大倍率和視場尺寸與被測量的特征相匹配。 單倍放大系統很簡單，其光學分辨率與配備標準物鏡的 2.0 兆像素數碼相機的像素尺寸非常匹配。該系統非常適合具有許多相似特征的零件的高速測量，對于這些零件，單次放大就足夠了。 雙倍放大系統利用兩條完整的光路，每條光路都有自己的相機。高倍率路徑是低倍率的 4 倍，提供瞬時變焦能力以獲得更高的光學分辨率。該系統非常適合測量不同特征需要寬視場和高精度的零件。雙倍放大系統也是需要佳自動對焦性能的應用的理想選擇。 兩種系統都可以與幾種相機型號（單色或彩色）中的一種搭配使用，這些型號將像素大小和密度與配置的鏡頭系統的光學分辨率相匹配�？捎玫墓鈱W和相機配置范圍允許 VIEW 為手頭的應用優化系統。 VIEW MicroLine systems for micro-fabricated part measurement use a semiconductor inspection microscope configured with a horizontal illuminator, multi-objective lens turret ａnd an appropriate selection of Bright Field or Bright Field / Dark Field objectives. MicroLine 系統有多種光學和相機配置可用，具體取決于要測量的零件的性質。

原創作者：東莞市天測光學設備有限公司