借助 MERLIN 系列場發射掃描電鏡，即可在數內完成圖像采集，觀察清晰的原子分辨率圖像及進行完整的三維表面測量與分析。無論是配備性能出色GEMINI I 鏡筒的入門型 MERLIN Compact 電鏡，或是配備高分辨率 GEMINI II鏡筒的型 MERLIN 電鏡，MERLIN 系列均是未來穩固投資的*之選：場發射掃描電鏡協助您更好地應對未來工作中的各種挑戰。15 個探測器端口和多個分析選擇，為用戶提供靈活性和擴展性。

　　MERLIN 系列易于擴展，以適應不斷增長的需求

　　MERLIN 系列場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)可以采集高分辨圖像，做成份分析，獲取樣品全部信息。樣品室配有用于安裝探測器和多種分析功能選項的 15 個端口，協助您完成從圖像采集到完整的材料分析等一系列工作。根據應用需求進行功能擴展：MERLIN 系列具備全面的可升性。

　　蔡司MERLIN系列場發射掃描電鏡應用無限

　　使用原子力顯微鏡功能選項，以原子分辨率獲取半導體樣品的表面結構信息。通過增加 3View® 超

　　微切機實現大體積生物樣本的三維重構。MERLIN系列的平臺設計與智能化探測器技術，隨時可借助即插即用擴展功能實現系統升。開放式的系統軟件編程接口，可快速地整合市場上的分析解決方案。

　　全面便捷的樣品分析

　　MERLIN 系列的整套探測系統由不同探測器組成：in-lens 二次電子探測器用于高分辨率成像、能量選擇背散射探測器(EsB)用于低電壓成份襯度成像、in-lens duo 探測器用于二次電子和背散射電

　　子成像，或角度選擇背散射探測器(AsB)用于晶體表面的結構分析。適合對各種材料進行單獨的分析，或與探測器信號一起獲取更豐富的圖像信息。這些只需根據應用選配一個或多個探測器便可實現。

　　原子力顯微鏡：獲取深度圖像

　　如若需要進行納米表面成像，掃描電子顯微鏡(SEM)則是您的選擇。然而，所收集到的數據往往會缺失一些附加信息：表面三維結構的呈現，或者是在低于納米的原子尺度上還需要什么信息?

　　整合了 AFM 功能的 MERLIN 系列讓這類問題迎刃而解。AFM 系統可借助樣品臺更換功能在幾分鐘內提供原子表面形貌的三維圖像。由于 AFM 技術是在原子尺度上進行校正的，可為掃描電子顯微鏡用戶提供所需分辨率。

　　蔡司MERLIN 系列場發射掃描電鏡產品來源：

　　http://www.xyichuang.com.cn/Products-27324637.html

　　https://www.chem17.com/st331930/product_27324637.html

原創作者：河南良工機械設備有限公司