大樣品臺原子力顯微鏡NTEGRA Prima的標準配置包括在大氣環境甚至液體環境中得到原子分辨圖像的基本配置。NTEGRA Prima不僅提供了所有傳統技術，例如形貌、相位、磁力測量，它還包括許多NT-MDT*的技術，例如，NT-MDT掃描電容顯微鏡，它以*的精度(1aF)對樣品表面電荷載流子濃度的變化進行成像，創造了電容測量的標準。NT-MDT的另一項有技術原子力聲學顯微鏡(AFAM)，是對彈性進行高研究的工具，它只需附加一個簡單易安裝的附件。AFAM利用局域彈性，可以對疇和結構進行直接的、非破壞性的成像，還可以對楊氏模量和其它如粘彈力、摩擦力在內的表面參數進行直接、定量地測量。

　　在原子尺度工作時，定位精度非常的關鍵。為了確保精度，所有NTEGRA 系列產品都特別的設計了內置、閉環的電容傳感器。即使當掃描區域小到50×50nm，因其超低的噪音水平(典型值小于0.1nm)仍然能在使用內置傳感器的情況下對樣品表面進行成像和修飾�？煽康膾呙璺答伌_�？筛呔鹊亩繙y量針尖和樣品表面間的相互作用力。

　　對于NTEGRA而言，NTEGRA Prima 僅僅只是一個基礎、核心，它所創建的納米實驗室設計了*開放的硬件、軟件和信號集成的結構，為與其它儀器集成提供了接口和平臺。它可以和高光譜儀、超薄切片機、大規模篩選(high-throughput screening)以及加熱附件等結合，形成新一代的集成分析儀器。無論你需要的是簡單的還是更加的完善和復雜的SPM，NTEGRA Prima都能提供良好的平臺，保證你成功的成像和測量。

　　大樣品臺原子力顯微鏡特色介紹：

　　裝有一個帶集成電容傳感器的可更換掃描器，可獲得的掃描范圍：100x100x12 µm，雙掃描模式(DualScan)是NT-MDT*的技術，它采用一個可更換的底部掃描器(100x100x12µm)和一個頂部掃描器(100x100x10μm)，使總的掃描范圍達到：200x200x22μm;XY非線性：校正后，峰峰值0.05%，在整個掃描范圍內，X-Y平面的定位精度保持在10-20納米內;NTEGRA的控制器和機械部件可以在高達5 MHz的高頻下工作，因此儀器可以使用高共振頻率的懸臂，從而得到更加*的圖像;同樣這使得原子力聲學顯微鏡(AFAM)的應用成為可能。該系統可以用于研究高電阻材料，例如半導體上的薄膜絕緣層、DLC和壓電薄膜、導電聚合物等。

　　大樣品臺原子力顯微鏡產品來源：

　　http://www.natengyiqi.com/Products-36909646.html

　　https://www.chem17.com/st125795/product_36909646.html

原創作者：上海羽泉泵閥制造有限公司