掃描熱學顯微鏡操作模式：1.合理的操作模式：

　　a. 擴展電阻成像：這個模式在表征半導體的應用中非常有用，因為在該模式下，我們可以利用W2C 或TiO涂層的硅懸臂來測得樣品上某一點的導電率，然后和該點的表明形貌進行比較。

　　b. 粘附力模式：在掃描過程中，可以同時得到力-距離曲線和力的值。

　　c. 剪切力模式：可以用來實現SNOW系統。

　　d. SKM對半導體表面成分分析十分有用。

　　e. RM和電壓刻蝕：利用這兩個模式可以在納米尺度實現機械和電壓表面修飾。

　　2.集成測量頭

　　在一次掃描過程中，可以同時得到4種不同的信息。

　　掃描器NT-MDT提供一套用于校正的標準光柵(6片)，用其進行掃描器的校正和針尖質量的控制。。

　　樣品大小大樣品也可以進行測量。

　　光學觀測系統多樣的光學觀測系統配置可以*客戶的需求。

　　針尖與樣品的驅近1. 驅近系統的機械設計可使得經過幾次驅近之后仍然能獲得相同的檢測區域。掃描位移大約為500nm，這個特點可以讓您在幾周內仍然能夠研究相同的樣品區域。

　　2. 在完成驅近之后，可以對所要檢測的區域進行自動掃描，因此實驗人員只需很短的時間便可以在SPM上獲得檢測結果。

　　3. 允許手動驅近。

　　電子學每個軸(X,Y和Z)通過2個16位DAC來實現22位的掃描精度，再加上低的系統噪音，所以Solver使用50mm的掃描器也能實現原子分辨率。

　　掃描熱學顯微鏡產品來源：

　　http://www.natengyiqi.com/ParentList-2349112.html

　　https://www.chem17.com/st125795/list_2349112.html

原創作者：蘇州國朗設備制造有限公司