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斷熱型比熱測定裝置SH系列
比熱容量，潛熱，變態點的測定
本裝置是根據長崎減三，高木豐兩位博士在1945年研究的測定方法而開發的設備。用獨自研發的斷熱控制方式精確地測出熱容量，潛熱，變態點等。
●用途
對于各種材料的比熱測定。
對于高分子材料的玻璃轉移的測定。
對于固體反應，來自固體的液體反應速度的分析。
●特長
由于采用了斷熱控制，在基本平衡狀態下進行測定。
基于比熱容量測定原理，由內部微型加熱器施加焦爾熱，精確地測出試樣溫度的上升。
●技術指標
溫度范圍 | 1.50～800℃ 2.室溫-150～100℃ |
試樣尺寸 | φ20/18mm×20mm長 |
測定溫度間隔 | 1，2，5，10℃ |
測定制度 | ±3％以內（一部±5％の溫度區間あり） |
測定氣氛 | 不活性氣體，（300℃大氣中） |
