膜厚儀采用二次熒光法：它的原理是物質經X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。
在生產過程中如何選擇膜厚儀呢?
    首先取決于你所測產品的結構.如果只是簡單的涂層,銅箔使用普通的膜厚儀就可以解決了.如：銅箔測厚儀,涂層測厚儀.
如果測電鍍層的厚度,而且具有幾層鍍層,那么就要使用x-射線膜厚儀.單鍍層厚度大于0.5um的還可以采用金相法觀察.
 

原創作者：金湖美安特自動化儀表有限公司