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MCT200 涂層測厚儀說明書
點擊次數：926 發布時間：2011/11/22 9:03:56
1 概述
本儀器是便攜式涂（鍍）層測厚儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂層、鍍層厚度的測量，也可進行薄膜厚度測量。本儀器能廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域，是材料保護專業必備的儀器。本儀器符合以下標準：
GB/T 4956─2003 磁性基體上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測量 磁性法
GB/T 4957─2003 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層 覆蓋層厚度測量渦流法
JB/T 8393─1996 磁性、渦流式覆層厚度測量儀
JJG 818─2005 《磁性、電渦流式覆層厚度測量儀》
1.1 技術參數
l 采用了磁性和渦流兩種測厚方法。通過選擇相應的測頭，既可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度；
l 測量范圍：（0～1250） μm（F1、N1測頭），F10測頭可達10mm；
l 分 辨率：0.1μm （F1、N1測頭）
l 示值精度：±（3%H+1）μm; H為被測涂層厚度
l 顯示方法：高對比度的段碼液晶顯示，高亮度EL背光；
l 存儲容量：可存儲20組（每組*多50個測量值）測量數據
l 單位制：公制（μm）、英制（mil），可自由轉換
l 工作電壓：3V（2節5號堿性電池）
l 持續工作時間：大于200小時（不開背光時）
l 通訊接口：USB1.1，可與PC機連接、通訊
l 外形尺寸：125mm×67mm×31 mm
l 整機重量：340g
1.2 主要功能
l 有十種測頭類型可供選擇，測頭接觸部件鍍硬鉻或為紅寶石，經久耐用；
l 通過選擇相應的測頭，既可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度；
l 具有測頭零點校準、一點校準、兩點校準功能, 并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正；具有測量狀態提示功能；
l 有EL背光顯示，方便在光線昏暗環境中使用；
l 有剩余電量指示功能，可實時顯示電池剩余電量；
l 具有自動休眠、自動關機等節電功能；
l 帶有USB1.1通訊接口，可將測量值傳輸至PC機。
l 可選擇配備微機軟件，具有傳輸測量結果、測值存儲管理、測值統計分析、打印測值報告等豐富功能；
l 采用鋁制外殼，小巧、便攜、堅實耐用，適用于惡劣的操作環境，抗振動、沖擊和電磁干擾；
1.3 工作原理
本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬 （如鋼、鐵、鎳、合金和硬磁性鋼等） 基體上非磁性覆蓋層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等）,及非磁性金屬基體（如銅、鋁、不銹鋼、鋅、錫等）上非導電覆蓋層的厚度（如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。
| 磁性法（F型測頭）： 當測頭與覆蓋層接觸時，測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。 | 磁性法基本工作原理 |
| 渦流法（N型測頭）： 利用高頻交變電流在線圈中產生一個電磁場，當測頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產生電渦流，并對測頭中的線圈產生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。 | 渦流法基本工作原理 |
1.4 儀器配置
| | 序號 | 名稱 | 數量 | 備注 |
| 標準 配置 | 1 | 主機 | 1臺 | |
| 2 | F1測頭 | 1只 | 或N1測頭 | |
| 3 | 校準片 | 5片 | | |
| 4 | 校零基體 | 1塊 | 根據測頭選配 | |
| 5 | 儀器箱 | 1只 | | |
| 6 | 隨機資料 | 1份 | | |
| 7 | AA（5號）尺寸堿性電池 | 2只 | | |
| 8 | | | | |
| 可選 配置 | 9 | 其它類型測頭 | | 根據用途選擇 |
| 10 | 數據管理軟件 | 1套 | 軟件光盤 | |
| 11 | USB通訊線纜 | 1條 | |
新購儀器請參照裝箱單仔細查對儀器及附件，不全時請及時與廠家聯系。
1.5 工作條件
環境溫度：操作溫度－20℃～＋50℃；存儲溫度：-30℃～＋70℃
相對濕度≤90％；
周圍環境無強烈振動、無強烈磁場、無腐蝕性介質及嚴重粉塵。
2 結構與外觀
2.1 儀器外觀
1 主機
2 測頭
2.2 主機結構
1 外殼
2 鍵盤
3液晶屏
4電池倉蓋
5測頭插座
6 USB插座
7銘牌
2.3 測頭結構
| 1. V型口 2. 加載套 3. 導線 4. 插頭滑套 5. 插頭尾套 |
測頭上設計有芯片，測頭基本校準數據就存儲于該芯片內。開機時，儀器會自動讀取該芯片，并將測頭的基本校準數據下載到儀器中。
插頭插入儀器操作：使插頭定位臺階對準插座定位槽，緊握插頭尾端向前適當用力推動插頭滑入插座。
拔出插頭操作：捏住插頭滑套，適當用力向外拉動插頭。
插拔測頭時，應沿插頭軸線用力，不可旋轉測頭，以免損壞測頭電纜芯線。
2.4主顯示界面
儀器開機后會自動進入顯示界面，如下圖所示：
測量狀態標識：該標識反映測頭與被測工件接觸是否良好
校準標識：對儀器進行兩點校準或者基本校準時出現
測頭類型：當前測頭類型：F型或者N型
存儲標識：存儲數據時，或者對儀器存儲器操作時，出現該標識
單位制式：μm（公制時），或者mil（英制時）
電池電量：電池剩余電量顯示
測量值：顯示厚度測量值，以及簡單的操作提示信息。
2.5鍵盤定義
| 儀器開關鍵 | 儀器校準 | |
| 背光開關鍵 | 確認鍵 | |
| 測頭校零 | 數值增加鍵 | |
| 單位制切換/退出鍵 | 數值減小鍵 | |
| 數據存儲/刪除鍵 | | |
3 儀器使用
3.1 測頭選擇
應根據基體、涂層的性質，以及涂層的厚度、工件形狀選擇測頭。選擇的依據請參考本手冊附錄1和附錄2。
3.2儀器開、關機
1） 將測頭插頭插入儀器上端的測頭插座中；
2） 按 鍵，伴隨著開機蜂鳴聲，儀器屏幕顯示開機界面后自動進入測量界面，此時儀器的各參數為上次關機前使用的參數；
在開機狀態下，按 鍵可以實現關機操作。
注意！
1，開機過程中，儀器會自動識別測頭并顯示所使用測頭的型號。
2，如果開機時儀器未連接測頭，或者測頭損壞，則儀器先后顯示”-Prb”和”E03”后自動關機。
3.3基本測量步驟
1） 準備好待測工件；
2） 將測頭插頭插入主機的測頭插座中；
3） 儀器開機；
4） 判斷是否需要校準儀器。如果需要，選擇適當的校準方法進行校準；
5） 測量。將測頭垂直接觸工件的測試面，并輕壓測頭加載套，當測頭與被測表面接觸穩定后，隨著一聲蜂鳴聲，屏幕將顯示測量標識和測量值。如果測量標識閃爍或無測量標識則表示測頭不穩定。移開測頭后，測量標識消失，厚度值保持。
6） 儀器關機。
注意！
1，如果在測量中測頭放置不穩，會引起測量值與實際值偏差較大；
2，如果已經進行了適當的校準，所有的測量值將保持在一定的誤差范圍內（見附錄1）；
3，根據統計學的觀點，一次讀數是不可靠的。因此儀器的任何一個測量值都是五次"看不見"的測量的平均值。這五次測量是在幾分秒的時間內由測頭和儀器完成的；
4，為使測量更加精確，可在一個點多次測量，并計算其平均值作為*終測量結果；
5，顯示測量結果后，一定要提起測頭至距離工件10mm以上，才可以進行下次測量。
3.4存儲功能
3.4.1存儲測量值
儀器中將存儲單元分成20個文件（F00-F19）,每個文件可存儲*多50個厚度測量值。厚度測量后可直接按鍵將測量值存入當前文件中；如果要改變當前文件，需要按下述步驟進行：
1） 在厚度測量狀態下，按 鍵，屏幕顯示當前文件名稱（例如：F02）和當前文件中的記錄總數。
2） 按 鍵及 鍵改變當前文件。
3） 按 鍵結束操作。
存儲厚度值時，如果當前文件中的記錄總數已經達到50個，則儀器會自動取消本次存儲操作，并且屏幕會顯示“FULL”提示信息。
3.4.2清空文件
如果要清空某個文件中的所有已存儲內容，則需要按照下述步驟進行：
1） 在厚度測量狀態下，按 鍵，屏幕顯示當前文件名稱和當前文件中的記錄總數。
2） 按 鍵及 鍵選擇要清空的文件名稱。
3） 按 鍵清空選定的文件。屏幕同時顯示“-dEL”提示信息。
4） 按 鍵結束操作。
3.4.3查看/刪除存儲記錄
儀器中存儲的厚度值可以調出查看，也可以刪除某個厚度記錄。操作方法如下：
1） 在厚度測量狀態下，按 鍵，屏幕顯示當前文件名稱和當前文件中的記錄總數。
2） 按 鍵及 鍵選擇要查看的記錄所在的文件名稱。
3） 按 鍵進入選定的文件。屏幕顯示出該文件中的當前記錄編號（如：L012），以及該記錄的內容。
4） 按 鍵及 鍵選擇要查看的記錄編號，該記錄的內容和記錄編號交替顯示在屏幕上。
5） 按 鍵刪除該記錄。屏幕同時顯示“-dEL”提示信息。
6） 按 鍵結束操作。
3.5改變單位制式
該儀器可以公制（μm）或者英制（mil）顯示厚度值。在測量過程中，按 鍵可以改變單位制式，在公制和英制之間進行轉換。
3.6背光功能
儀器液晶屏帶有EL背光功能，以便在光線昏暗處可以閱讀測量值。由于背光打開后，儀器功耗明顯增加，所以請在必要的時候才打開背光，以節約用電，延長電池使用時間。
按鍵可以打開或者關閉背光。
3.7電池電量指示
儀器主機內裝有串聯連接的2節AA尺寸（5號）堿性電池。電池電量充足時，電量指示符號滿格顯示；電池用過一段時間后，電池符號會顯示為非滿格；電池接近用完時，電池符號會閃動顯示 ，此時應該立即更換電池。
3.8自動關機
l 儀器具有自動關機功能，以節省電池電能。
l 如果在5分鐘內既沒有測量，也沒有任何按鍵操作，儀器會自動關機，在關機前液晶屏幕會閃爍顯示20秒，這時按除鍵外的任意鍵，或者進行一次測量操作，都可以使液晶屏幕停止閃動并停止關機操作。
l 當電池電壓過低時，儀器會自動關機。
3.9恢復出廠設置
開機時，按住 鍵的同時按下鍵，儀器的所有測量參數、零點校準和兩點校準數據將恢復到出廠狀態；儀器內部存儲的測量數據（F1~F19）也將同時被清空。
3.10與PC機通訊
將USB線纜的一端插入儀器的USB通信插座中,將另一端插頭插入計算機的USB口中。在PC機上運行DataPro數據管理軟件，按照DataPro 數據管理軟件操作手冊的指引，可以對儀器內存儲的數據下載到PC機中，并可以進行后續的數據處理、保存、打印等操作。
3.11 提示信息對照表
| 顯示編碼 | 解釋 | 顯示編碼 | 解釋 |
| E00 | 電池電量即將耗盡 | E09 | 測值無效 |
| E02 | 測頭損壞 | -Prb | 測頭信息無法讀取 |
| E03 | 測頭損壞 | Prb0 | 提示進行零點校準 |
| E05 | 開機時測頭距離基體太近 | | |
| E06 | 測值異常 | | |
4 儀器校準
為使測量準確，應在測量場所對儀器進行校準。
4.1 校準標準片
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準標準片,簡稱標準片。
校準箔。對于磁性方法，“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對于渦流方法，通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校準，而且比用有覆蓋層的標準片更合適。
有覆蓋層的標準片。采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結合的覆蓋層作為標準片。對于磁性方法，覆蓋層必須是非磁性的。對于渦流方法，覆蓋層必須是非導電的。
4.2 基體
為減小校準誤差，對于磁性方法，標準片基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似；對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與待測試件基體金屬的電性質相似。待測試件的金屬基體厚度，要滿足附錄1中所規定的臨界厚度。
可采用下面兩種方法進行校準：
u 在與待測工件的金屬基體厚度相同的金屬標準片上校準；
u 用一足夠厚度的、電學性質相似的金屬襯墊金屬標準片或試件，注意必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。
如果待測覆蓋層的曲率很大，則選擇有覆蓋層的標準片時，其曲率應與待測試件的曲率相同。
4.3 校準方法
本儀器有三種校準方法: 零點校準、兩點校準，還有一種針對測頭的基本校準。
在溫度變化極大的情況下，如冬季或盛夏在室外操作時，應在與待測箔厚度接近的標準片上進行校準。校準時的環境溫度應與使用時的環境溫度一致。
4.3.1零點校準
在每次開機后、更換測頭、更換電池、環境溫度變化較大或者測量出現偏差時應對測頭進行零點校準。此步驟對保證測量準確度十分關鍵。如有必要，可重復多次。步驟如下：
1） 在基體上進行一次測量，屏幕顯示<X.Xμm >；然后提起測頭。
2） 按 鍵，屏幕顯示<0.0μm >。
3） 重復上述1）、2）步驟可獲得更為精確的零點，提高測量精度。零點校準完成后就可進行測量了。
4.3.2二點校準
兩點校準法又分一試片法和二試片法。
4.3.2.1 一試片法
這一校準法適用于高精度測量及小工件、淬火鋼、合金鋼。
1） 先校零點（如上述）。
2） 在厚度接近于待測覆蓋層厚度的標準片上進行一次測量，屏幕顯示＜×××µm＞。
3） 按鍵進入二點校準狀態，屏幕上的“CAL”標識開始閃動。
4） 用鍵修正讀數，使其達到標準片標稱值。
5） 連續按兩次鍵。“CAL”標識消失。
校準已完成，可以開始測量了。
注意:用F5 和 F10 測頭，測量金屬鍍層時，應使用兩點校準法校準。
4.3.2.2 二試片法
根據待測覆蓋層厚度選擇兩個標準片，待測覆蓋層厚度應該在兩個標準片的厚度值之間。這種方法尤其適用于粗糙的噴沙表面和高精度測量。
1） 先校零值。
2） 在較薄的標準片上進行一次測量。
3） 按鍵進入二點校準狀態，屏幕上的“CAL”標識開始閃動。
4） 用鍵修正讀數，使其達到較薄標準片的標稱值。
5） 按 鍵，然后在較厚的標準片上進行一次測量。
6） 用鍵修正讀數，使其達到較厚標準片的標稱值。
7） 按鍵。“CAL”標識消失。
校準已完成，可以開始測量了。
4.3.2.3 在噴沙表面上校準
噴沙表面的特性容易導致測量值大大偏離真實值，其覆蓋層厚度大致可用下面的方法確定。
方法一：
1） 儀器要用4.3.1或4.3.2.1的方法在曲率半徑、基材相同的平滑表面上校準好。
2） 在未涂覆的、經過相同噴沙處理的表面上測量10次左右，得到厚度平均值Mo。
3） 然后，在已涂覆的表面上測量10次得到測量平均值Mm。
4） （Mm—Mo）±S即是覆蓋層厚度。其中S（標準偏差）是SMm和SMo中較大的一個。
方法二：
1） 先用兩試片法校準儀器。
2） 在試樣上測量5～10次，測量值的平均值即是覆層厚度。
4.3.2.4 銅上鍍鉻層的校準方法
適用于N400、N1和N1/90°測頭，并使用特殊的校準標準片。
u 必須使用一試片法。
u 使用標有“銅上鍍鉻” （CHROME ON COPPER） 字樣的特殊標準片。
4.3.3測頭基本校準
在測量中，如果測量誤差明顯地超出給定范圍，則應對測頭重新進行校準。通過輸入 5組校準值，可重新校準測頭，這一操作過程稱為基本校準。
儀器出廠時，每一個測頭都已經過基本校準�；拘蕯祿鎯τ跍y頭內部的芯片中。開機時，儀器會自動讀取測頭的基本校準數據，并在測量過程中自動校正測量結果。用戶一般無須進行基本校準。但當測頭頂端磨損嚴重，導致測量誤差明顯地超出給定范圍時，有必要進行基本校準。
操作方法為：
1） 在儀器關閉的狀態下，按住 鍵再按 鍵，直到一聲長鳴，屏幕上閃爍顯示校準標識”CAL”，即進入基本校準狀態；
2） 先校零點�？芍貜瓦M行多次，以提高校準的準確性；
3） 在*薄的標準片上進行測量，用鍵修正讀數，使其達到此標準片的標稱值。然后按鍵，進入下一個標準片的測量校準。
4） 使用其它4個標準片，按厚度增加的順序，依次重復上一步驟。每個厚度應至少是上一個厚度的1.2 倍以上，理想的情況是2倍。例如: 50、100、200、400、800μm。值應該接近但低于測頭的測量范圍；
注意: 每個厚度應至少是上一個厚度的1.2 倍以上，否則視為基本校準失敗。
5） 在輸入5個校準值以后，儀器自動關閉，新的校準值已存入測頭上的存儲器中。當再次開機時，儀器將按新的校準值工作。
5維護及注意事項
5.1一般注意事項
l 應避免儀器及測頭受到強烈震動；
l 避免儀器置于過于潮濕的環境中；
l 插拔測頭時，應捏住活動外套沿軸線用力，不可旋轉測頭，以免損壞測頭電纜芯線。
l 油、灰塵的附著會使測頭線逐漸老化、斷裂，使用后應清除纜線上的污垢。
5.2電池檢查
電池容量接近用完時，應該及時更換電池，以免影響測量精度。儀器長時間不使用時應將電池取出，以免電池漏液，腐蝕儀器盒與電極片。
注意電池安裝時的正負極性！極性顛倒可能導致儀器損壞！
5.3校零基體的維護
校零基體的表面狀況對于測頭校零影響較大，所以請注意保護校零基體以防止表面劃傷、生銹。
5.4機殼的清潔
酒精、稀釋液等對機殼尤其是視窗有腐蝕作用，故清洗時，用少量清水輕輕擦拭即可。
5.5儀器維修
當儀器出現非正�，F象（如儀器損壞，不能測量；液晶顯示異常；誤差過大；鍵盤操作失靈或混亂等）時，請不要拆卸或調節任何固定裝配之零部件，請交給我公司維修部門檢測、維修。
附錄
附錄1 測頭參數表
| 測頭型號 | F400 | F1 | F1/90° | F5 | F10 | |||
| 工作原理 | 磁 感 應 | |||||||
| 測量范圍（mm） | 0～400 | 0～1250 | 0～5000 | 0～10000 | ||||
| 低限分辨力（mm） | 0.1 | 0.1 | 1 | 10 | ||||
| 示值 誤差 | 一點校準（mm） | ±（3%H+1） | ±（3%H+5） | ±（3%H+10） | ||||
| 二點校準（mm） | ±（（1～3）%H+0.7） | ±（（1～3）%H+1） | ±（（1～3）%H+5） | ±（（1～3）%H+10） | ||||
| 測 試 條 件 | *小曲率半徑（mm） | 凸 | 1 | 1.5 | 平直 | 5 | 10 | |
| *小面積的直徑（mm） | F3 | F7 | F7 | F20 | F40 | |||
| 基體臨界厚度（mm） | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 1 | 2 | |||
| 測頭型號 | N400 | N1 | N1/90° | CN02 | N10 | |||||
| 工作原理 | 渦 流 | |||||||||
| 測量范圍（mm） | | 0～1250 | 10～200 | 0～10000 | ||||||
| 低限分辨力（mm） | 0.1 | 0.1 | 1 | 10 | ||||||
| 示值誤差 | 一點校準（mm） | ±（3%H+0.7） | ±（3%H+1.5） | ±（3%H+1） | ±（3%H+25） | |||||
| 二點校準（mm） | ±[（1～3%H+0.7） | ±[（1～3）%H+1.5] | ___ | ±（（1～3）%H+25） | ||||||
| 測 試 條 件 | *小曲率半徑（mm） | 凸 | 1.5 | 3 | 平直 | 僅為平直 | 25 | |||
| *小面積的直徑（mm） | F4 | F5 | F5 | F7 | F50 | |||||
| 基體臨界厚度（mm） | 0.3 | 0.3 | 0.3 | 無限制 | 50mm鋁箔 | |||||
注：H—涂層厚度標稱值
附錄2 測頭選擇導引
| 覆蓋層 基體 | 有機材料等非磁性覆蓋層（如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、 塑料和陽極化處理等） | | |||||
| 覆蓋層厚度不超過100mm | 覆蓋層厚度超過100mm | | |||||
| 如鐵、鋼等磁性金屬 | 被測面積的直徑 大于30mm | F400型測頭 0～400mm F1型測頭 0～1250mm | F1型測頭 0～1250mm F5型測頭 0～5mm F10型測頭 0～10mm | | |||
| 被測面積的直徑 小于30mm | F400型測頭 0～400mm | F1型測頭 0～1250mm F400型測頭 0～400mm | | ||||
| 如銅、鋁、黃銅、鋅、錫 等 有色金屬 | 被測面積的直徑 大于10mm | N400型測頭 0～400mm | N400型測頭 0～400mm N10型測頭 0～10mm | | |||
| 被測面積的直徑 小于10mm | N400型測頭 0～400mm | N1型測頭 0～1250mm N400型測頭 0～400mm | | ||||
| 覆蓋層 基體 | 非磁性的有色金屬覆蓋層（如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等） | ||||||
| 覆蓋層厚度不超過100mm | 覆蓋層厚度超過100mm | ||||||
| 如鐵、鋼等磁性金屬 | 被測面積的直徑 大于30mm | F400型測頭 0～400mm | F400型測頭 0～400mm F1型測頭 0～1250mm F5型測頭 0～5mm F10型測頭 0～10mmm | ||||
| 被測面積的直徑 小于30mm | F400型測頭 0～400mm F1型測頭 0～1250mm | F400型測頭 0～400µm F1型測頭 0～1250mm | |||||
| 如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等 有色金屬 | 被測面積的直徑 大于10mm | 僅用于銅上鍍鉻 N400型測頭 0～40mm | －－－－－－－－ | ||||
| 被測面積的直徑 小于10mm | －－－－－－－－ | －－－－－－－－ | |||||
| 塑料、印刷線路非金屬基體 | 被測面積大 | CN200型測頭10～200mm | CN200型測頭10～200mm | ||||
附錄3 影響測量精度的因素
3.1 影響因素相關表
| 影響因素 | 磁性方法 | 渦流方法 |
| 基體金屬磁性質 | ▲ | |
| 基體金屬電性質 | | ▲ |
| 基體金屬厚度 | ▲ | ▲ |
| 邊緣效應 | ▲ | ▲ |
| 曲率 | ▲ | ▲ |
| 試樣的變形 | ▲ | ▲ |
| 表面粗糙度 | ▲ | ▲ |
| 磁場 | ▲ | |
| 附著物質 | ▲ | ▲ |
| 測頭壓力 | ▲ | ▲ |
| 測頭取向 | ▲ | ▲ |
▲ －－－－－－ 表示有影響
3.2 影響因素說明
基體金屬磁性質。磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。
基體金屬電性質。基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。
基體金屬厚度。每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。
邊緣效應。本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。
曲率。試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
試件的變形。測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上不能測出可靠的數據。
表面粗糙度。基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
磁場。周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
附著物質。本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感，因此，必須清除附著物質，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
測頭壓力。測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。
測頭的取向。測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。
3.3 使用儀器時應當遵守的規定
基體金屬特性。對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。
基體金屬厚度。檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可根據本手冊中講解的方法進行校準。
邊緣效應。不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
曲率。不應在試件的彎曲表面上測量。
讀數次數。通常由于儀器的每次讀數并不完全相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。
表面清潔度。測量前，應清除表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質。
用 戶 須 知
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