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X-射線熒光鍍層測厚及材料元素分析儀
點擊次數：969發布時間：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：德國
產品型號：
優質供應
詳細內容
| HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統有超過17年的經驗。通過對所有相關過程包括X射線熒光測量法的精確處理和使用了*新的軟件和硬件技術，FISCHER公司的X射線儀器具有其獨特的特點。 的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標準片校準并保證一定測量精度的情況下測量復雜的鍍層系統，同時可以對包含多達24種元素的材料進行分析（使用WinFTM® V.6軟件） 典型的應用范圍如下：
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所有的設備遵循ASTM B568， DIN 60 987和 ISO 3497等國家和標準。
型號 XUL(M) XDL-B XDLM-C4 XDVM-W XDVM-µ 測量方向 從下往上 從上往下 從上往下 從上往下 從上往下 X-射線管型號 W 或 MW W MW MW MW 可調節的高壓 有 有 有 有 有 開槽的測量箱體 有 有 有 有 有 基本Ni濾波器 有 有 有 有 有 接收器(Co) 有 有 有 數準器數目 W-類型: 1 1 4 4 1 z-軸 無 無，或電機驅動或可編程的 電機驅動的或可編程的 可編程的 可編程的 測量臺類型 固定臺面或可 固定臺面 手動XY工作臺或 可編程的XY工作臺 可編程的XY工作臺 測試點的放大倍率 38 - 184 x 20 - 180 x 20 - 180 x 40 - 568 x 30 - 1108 x DCM方法 有 有 有 WinFTM® 版本 V.3 標準 V.3 標準 V.3 標準 V.3 標準 V.6 標準 操作系統： 有 有 有 有 有
W: 鎢管
MW: 微聚焦鎢管
30kV; 40kV; 50kV
(可選擇)
可選擇的
WM-版本
WM-類型: 4
選的手動XY工作臺
或
手動XY工作臺或
可編程的XY工作臺
可編程的XY工作臺
(距離控制測量)
V.6 可選擇
V.6 可選擇
V.6 可選擇
V.6 可選擇
Windows XP prof.
