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              圓盤式離心/沉降粒度儀

              點擊次數:588發布時間:2009/11/2 0:00:00

              圓盤式離心/沉降粒度儀

              更新日期:1900/1/1 0:00:00

              所 在 地:美國

              產品型號:

              簡單介紹:BI-DCP是數字式控制的高分辨率、高準確度的顆粒粒度分析儀,它完善的硬件設計集中體現了90年代離心/沉降原理粒度測試儀器的全部技術精華。

              相關標簽:

              優質供應

              詳細內容

               
              由于BI-XDC采用X射線為光源,從而降低了系統對數學工具的依賴,從根本上保證了測量結果的準確性。

              主要特點  
               
              1.輔層進樣與均相進樣兩種方式
              2.重力沉降與離心沉降兩種模式
              3.具有較高的分辨率
              4.分段檢測功能實用方便
              5.應用廣泛

              技術參數   
               
               
              1.粒度范圍:10nm-45um 或 10nm-100um
              2.電極轉速:500-10000rpm 或 500-15000rpm
              3.精度:2%; 重復性:1%
              4.BI-DCP擁有強大的數據庫,存儲多種典型物料的消光曲線。
              5.BI-XDC以X射線為檢測光源,無需消光校正  
                

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