高溫四探針測試儀用于：企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據.
雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。
型號及參數：
規格型號 BEST-351B
1.方塊電阻范圍  10^-6～2×10^5Ω/□
2.電阻率范圍 10^-7～2×10^6Ω-cm
3.測試電流范圍 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA
4.電流精度 ±0.1讀數
5.電阻精度 ≤0.3%
6.PC軟件界面 顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
7.測試方式 雙電測量
8.四探針儀工作電源 AC 220V±10%.50Hz  <30W
9.誤差 ≤3%（標準樣片結果）
10.溫度(選購) 常溫－－200℃;400℃；600℃；800℃；1000℃；1200℃；1400℃；1600℃
11.氣氛保護（氣體客戶自備） 常用氣體如下：氦(He)、氖(Ne)、氬(Ar)、氪(Kr)、氙(Xe)、氡(Rn)，均為無色、無臭、氣態的單原子分子
12.溫度精度 沖溫值：≤1-3℃；控溫精度：±1°C
13.升溫速度： 常溫開始400℃－－800℃需要15分鐘；800℃-1200℃需要30分鐘；1400℃-1600℃需要250分鐘—300分鐘
14.高溫材料 采用復合陶瓷纖維材料，具有真空成型，高溫不掉粉的特征
15.PC軟件
 測試PC軟件一套，USB通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數據！
16.電（探針）材料標配  鎢電或鉬電+電（探針）陶瓷管 +高溫陶瓷樣品臺，1套.
17.探針間距  直線型探針，探針間距：4mm；
18.樣品要求 樣品長度要求≥13mm  樣品寬≥2mm或直徑≥13mm
19.高溫電源：
 供電：400-1200℃ 電源220V，功率2-4KW；380V;1400℃-1600℃電源380V；功率4-6KW：
20.標配外（選購）： a電腦和打印機1套；b.標準電阻1-5個；
c.S型鉑銠探針電（溫度范圍：200-1300度）；
d.B型鉑銠探針電（溫度范圍：1400-1600度）標準配置外訂購明細：
序號 品名 單位 數量 備注
1 測試線 套 1 4條為1套
2 標準電阻 個 1-5 選購規格和數量
3 高溫陶瓷樣品平臺 套 1 適用于固態樣品；溫度≤1200度
4 高溫陶瓷樣品平臺 套 1 適用固態、液體樣品；溫度≤1200度
5 高溫陶瓷樣品平臺 套 1 適用于固態樣品；溫度≥1300度
7 高溫陶瓷樣品平臺 套 1 適用固態、液體樣品；溫度≥1300度
8 鎢電組合4根 組 1 陶瓷+鎢針一組4根;溫度≤1200度
9 S型鉑銠電組合4根 組 1 陶瓷+鉑銠一組4根;溫度≤1300度
10 B型鉑銠電組合4根 組 1 陶瓷+鉑銠一組4根;溫度≤1700度
11 剛玉坩堝 個 1 消耗品；
12 剛玉陶瓷管4根 組 1 4根為一組
13 分析軟件 套 1 
14 電腦+打印機 套 1 依據客戶要求配置
15 檢測技術服務 份 1 計量證書1份
16 高溫手套 雙 1 
17 高溫坩堝鉗 把 1 
18 高溫升降裝置 套 1 
 延保服務   年 1-3