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優質供應
詳細內容
配有多種參數。 評估型表面粗糙度測量儀同時配置 分析功能。
● 裝置配備FORMTRACEPAK表面粗糙度/輪 廓分析程序。
● 標準或低測力檢出器(4mN/0.75mN)的選 擇，無需考慮設備本體是否有裝配傾斜 裝置。
●Z2軸(立柱)的700mm型*新上市
規格 型號 SV-3200S4 SV-3200H4 SV-3200W4 SV-3200L4 SV-3200S8 SV-3200H8 SV-3200W8 SV-3200L8 測量范圍/ 分辨力 Z1軸 800µm/0.01µm, 80µm/0.001µm, 8µm/0.0001µm X軸行程范圍 100mm 200mm
驅動部
X軸直線度 (0.05+0.001L)µm (L: 測量長度 (mm)) (0.1+0.002L)µm (L: 測量長度 (mm)) 測量速度 0.02、0.05、0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、5.0、10、20mm/s Z2軸 (立柱) 300mm (電動)*1 500mm (電動)*1 700mm (電動)*1 300mm (電動)*1 500mm (電動)*1 700mm (電動)*1
評價輪廓
原始輪廓, 粗糙度輪廓, 波形輪廓, 濾波輪廓, 殘余線輪廓, 滾圓波紋度輪廓 滾圓中心線波紋度輪廓, DIN4776輪廓, 粗糙度 motif輪廓, 波形 motif輪廓
