FISCHER（菲希爾）膜厚儀XDLM-237說明:德國菲希爾公司的X射線熒光鍍層膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237是一款較為高端的x射線鍍層測厚儀，測量所有金屬鍍層的厚度以及多鍍層或者合金成分分析，也可以進行電解溶液含量成份分析，帶有國家環保局豁免證書，無放射源設計，安全環保。X射線熒光鍍層膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237主要測量和分析微小結構的印刷線路板、電氣元件及大規模生產的零部件上的鍍層。
德國菲希爾公司的X射線熒光鍍層膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237是一款應用廣泛的能量色散型x射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量分析極薄鍍層和超小含量而設計，是用于質量控制，質量檢驗和生產控的*合適的測量儀器。典型的應用領域有： 測量微小區域上的薄鍍層 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層 全自動測量，如測量印刷線路板 本公司專業維修膜厚儀X光管更換 還可為客戶測試對比樣品 出售/回收二手FISCHER膜厚儀等

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