掃描電子顯微鏡JASM-6200設計原理
掃描電子顯微鏡JASM-6200(ASEM)是和在其上方設置的光學顯微鏡共同構成。ASEM在倒立的SEM上方配置了一層薄膜，在透過電子束的同時又阻止了大氣通過，這樣就可以把大氣中的樣品與SEM內部的真空隔離開來。樣品放置在薄膜的上面，從其下方照射出電子束，由此可以在大氣下對樣品進行高倍觀察。另外通過上方的光學顯微鏡還可以進行相同視野的觀察。使用薄膜構成的ASEM皿(薄膜皿),可以在細胞室內進行細胞的培養。
掃描電子顯微鏡（SEM)與光學顯微鏡和激光顯微鏡相比，具有焦距更深，分辨率更好的特點。相反，得不到象光學顯微鏡那樣獲得的純自然光澤。我們利用掃描電子顯微鏡的主要特點，可以廣泛應用于科研和生產。