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更新日期:2017/7/11 16:45:52
所 在 地:歐洲
產品型號:
簡單介紹:高性能X射線熒光測試儀,配有可編程XY平臺和Z軸,可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素 ,高性能X射線熒光測量儀,配有的硅漂移探測器(SDD),可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。
高性能X射線熒光測試儀,配有可編程XY平臺和Z軸,可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素
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