深圳市中測古德科技有限公司
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更新日期：2017/7/11 16:35:28
所 在 地：歐洲
產品型號：
簡單介紹：高性能X射線熒光測量儀，配有的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。
X射線熒光測試儀，可手動或全自動測量功能性鍍層(包括鉻層測厚、銅厚測量)、防腐蝕鍍層和大規模生產零部件
聯系人：胡先生
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