學結構

反射 : d/8;SCI 鏡面光包含 /SCE 鏡面光不包含 可切換 ;

d/8 光學結構符合 ISO 和 DIN 標準 ;

d/0 之光學結構也符合 CIE 和 ASTM 標準 穿透 : d/0.

偵測器

硅光電二極管（ 40 對組件）

測量波長范圍

360 到 740nm 每間隔 10nm

精確度

反射率從 0 到 200 Resolution: 0.01

光源

脈沖氙弧燈（× 4 ）

測量時間

大約 1.5 秒 .

測量間隔時間

4 秒，當測量 SCI/SCE 時

UV 光調整 / 過濾

實時的數字調節和 400nm&420nm 截斷

穿透測量之樣品

薄片 , 色板 , 或 液體 裝在容器中 厚度不超過 50mm

再現性

光譜反射率 : 標準偏差 ≦ 0.1

色差值 : 標準偏差Δ E＊ab ≦ 0.02

測量條件 : 執行校正后測量校正白板 , 測 30 次每次間隔 10 秒

機臺交換性 LAV

平均Δ E＊ab 0.15 基于 12 BCRA Series Ⅱ 色板測量值與標準機臺比較 .

溫度影響

光譜反射率 : ≦± 0.10/ ℃ 色差值 : Δ E＊ab≦ 0.05/ ℃

通訊接口

RS-232C

電源

AC 120V/230V 50/60Hz

操作溫度 / 濕度范圍

13 to 33 ℃ ; 低于 80 相對濕度 at 33 ℃ 無冷凝

儲存溫度 / 濕度范圍

0 to 40 ℃ ; 低于 80 相對濕度 at 33  ℃ 無冷凝

體積 W × H × D

244 × 208 × 378mm （ 9-5/8 × 8-3/16 × 14-7/8inch. ）

重量

12kg 26-7/16 lb.

標準配置

校正白板 CM-A103; 目標罩 ψ 4mmCM-A107; 目標罩 ψ 8mmCM-A106 ；目標罩 ψ 25.4mm CM-A105; 零點校正盒 CM-A104; 附件盒 CM-A109; 變壓器 AC-A12; RS-232C 通訊線 CM-A52

防塵罩； Unit Driver 軟盤