ST8000光學薄膜測厚儀是把UV-Vis光照在測量對象上，利用從測量對象中反射出來的光線測量膜的厚度的產品。 這種產品主要用于研究開發或生產導電體薄膜現場，特別在半導體及有關Display工作中作為 In-Line monitoring 儀器使用。

ST8000光學薄膜測厚儀產品特性

1) 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。

2) 可獲得厚度和 n,k 數據。

3) 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。

4) 可測量3層以內的多層膜。

5) 根據用途可自由選擇手動型或自動型。

6) 產品款式多樣，而且也可以根據顧客的要求設計產品。

7)可測量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)

8)用于特殊領域(超精密,微小部位-0.2um2 ) a