Morphologi G3 自動顆粒形態表征系統是滿足您上述需求的新型分析工具。此系統將高質量圖像和具有統計意義的顆粒形狀、大小測量方法組合在一起。

我們完全集成式的干粉分散系統設計新穎，可縮短樣本制備時間，并顯著提高測量的可重復性。

Morphologi G3 自動顆粒形態表征系統功能強大且直觀的數據分析工具，可確保您從測量數據中獲得*豐富的結果。

• 顆粒大�。� Morphologi G3 使用不同的放大倍數確保對整個顆粒大小范圍 （0.5µm – 3000µm） 的高分辨率，可使用圓當量直徑參數精確測量顆粒大小。
   
• 顆粒形狀：可計算各種顆粒形狀參數，例如延伸度、圓度和凸起度等。這些參數可識別和量化樣本間的細微差別，而那些只能測量顆粒大小的技術則無法識別這些不同。
   
• 顆粒數量和雜質顆粒檢測：實際上，樣本中的所有顆粒都可以被單獨測量并記錄，這使得圖像分析系統能夠出于某些目的（例如顆粒雜質檢測）計算某類顆粒的數量。

Morphologi G3 自動顆粒形態表征系統簡介：

• 完全集成的干粉分散劑： 我們完全集成式的干粉分散系統設計新穎，可縮短樣本制備時間，并顯著提高測量的可重復性。
   
• 統計意義： 只需單擊一下鼠標，便可分析成千上萬的顆粒！
   
• 消除用戶偏差：標準操作程序 （SOP） 方法可客觀地記錄和控制所有儀器參數（例如，焦距、光線強度、放大倍數）。在一臺儀器上開發的方法可通過單一電子文件進行全局傳送。
   
• 保存高質量圖像： 對每個單一顆粒圖像都能進行觀察和記錄，從而可目視驗證破裂顆粒、凝聚物、精細顆粒和雜質顆粒等的存在。
   
• 精確、可重復和“可驗證”：為確保數據的一致性，圖像分析系統在每次顆粒分析前后，都要使用 NPL（National Physical Laboratory，英國國家物理研究所）的多段光柵可跟蹤技術進行自動校準。此圖像分析儀符合 21CFR 第 11 部分的要求，并可提供完整的 IQ/OQ（安裝認證/操作認證）文檔。