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              馬爾文納米顆粒表征及應用技術研討會在京召開

              點擊次數:626 發布時間:2008/12/29
              由英國馬爾文儀器有限公司與北京粉體技術協會聯合舉辦的“納米顆粒表征及應用技術研討會”于2008年12月16日在北京市理化分析測試中心北科大廈報告廳成功舉辦,來自大專院校、科研院所及公司企業的近70位業內人士濟濟一堂,共襄盛會,其中很多已是馬爾文產品的用戶。 
               

              會議內容涵蓋納米粒度分布測量、Zeta電位測量、納米樣品分散等技術原理與應用及納米技術相關標準現狀的介紹。會議期間北京粉體技術協會理事長胡榮澤教授和秘書長周素紅高工分別作了“超微粉粒度分布測量”和“納米技術相關標準現狀”的學術報告.
              而馬爾文公司納米技術專家寧輝博士則詳盡介紹了涵蓋納米檢測技術概述、動態光散射原理和*新進展、靜態光散射和分子量的測定、多普勒電泳光散射和Zeta電位測定、顆粒間相互作用和高濃度樣品測定等。 在報告中,馬爾文公司提到其*新推出的納米粒度儀Zetasizer APS和Zetasizer μV。這兩款新品指向生物領域應用,為蛋白質表征而設計。Zetasizer APS可對行業標準96或384孔載樣板中的樣品進行自動化動態光散射測量;Zetasizer μV則是對馬爾文已有Zetasizer系列產品在應對高靈敏度和小容量測試需求上的補充。
              在問題解答環節,多位觀眾就自身在測試工作中遇到的問題提問,馬爾文技術專家一一解答,現場交流氣氛熱烈。馬爾文公司更將其榮獲工業設計金獎的Zetasizer Nano ZS 納米粒度和電位儀帶至會場,現場演示并為帶來樣品的客戶進行現場檢測。馬爾文中國客戶支持經理侯志云小姐主持了現場演示及檢測環節. 

              馬爾文公司明年將主辦更多介紹該領域技術及相關進展的類似會議,敬請留意相關信息. 

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